杭州设备失效分析询问报价「苏州特斯特」[苏州特斯特]内容:热阻测试仪是一种用于物理学领域的分析仪器,于2011年01月15日启用。加热电压范围:0~50V,测量精度:-0.009%;加热电流范围:0~10A,测量精度:0.063%;热电偶测量精度:-0.01℃。用于测试LED芯片工作时的PN结温度。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等先进测试设备制造国家。

Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司,符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管,三极管,线形调压器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IGBT,IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。

射线照相法(RT)是指用X射线或γ射线穿透试件,以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法,该方法是基本的,应用的一种非破坏性检验方法。原理:射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光,当X射线或γ射线照射胶片时,与普通光线一样,能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影,由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同,照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异,便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。

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