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上海半导体射频测试厂家来电垂询「德普福电子」

发布者:德普福电子 发布时间:2024-05-22 04:01:50

上海半导体射频测试厂家来电垂询「德普福电子」[德普福电子ff4ea67]内容:

无线射频识别系统的读写距离是一个很关键的参数。长距离无线射频识别系统的价格还很贵,因此寻找提高其读写距离的方法很重要。影响射频卡读写距离的因素包括天线工作频率、阅读器的RF输出功率、阅读器的接收灵敏度、射频卡的功耗、天线及谐振电路的Q值、天线方向、阅读器和射频卡的耦合度,以及射频卡本身获得的能量及发送信息的能量等。大多数系统的读取距离和写入距离是不同的,写入距离大约是读取距离的40%~80%。

采用超外差结构的另外一种实现方法是利用中频采样来减少信号链上的器件个数。这种方法选择在中频对信号进行采样,而不是在采样前先将信号混合到基带。在头一种超外差结构中,从中频到基带的转换过程需要以下器件:本机锁相环、智能解调器(混频器)和双向ADC(模拟-数字转换器)。如果选择在中频进行采样,那这三个器件可以用一个高的性能的ADC来代替。这不仅可以降低信号链的复杂程度,还可以提高信号解调的质量。

毫米波同轴连接器从广义上讲,它是一段同轴线,因此同轴线传输的基本理论在这里也是适用的。但是它毕竟又不详同轴线那样简单,由于结构上的需要,引进了绝缘子,内外导体直径出现台阶。它不可能是一个均匀的同轴线,使电场传输特性发生了改变,另外由于制造上的原因,存在不可避免的误差,使连接器的精度受到影响。这一系列问题是连接器理论需要解决的内容。有些可以通过理论分析与计算求的比较合理的设计参数,但是有些问题因数十分复杂,难以进行理论计算,就是计算也不一定准确,只有通过对典型结构的试验,找出他们的规律性,用以指导连接器的理论设计。

以上信息由专业从事半导体射频测试厂家的德普福电子于2024/5/22 4:01:50发布

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